성능 테스트 요구사항 충족 위해 VectorStar™
VNA에 차동 잡음 수치 측정 옵션 제공

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안리쓰(Anritsu)가 고속 무선 통신 시스템에 사용되는 차동 장치의 차동 잡음 지수(Differential Noise Figure)를 광범위하게 특성화할 수 있는 솔루션을 발표했다.
새로운 차동 잡음 지수 옵션(Differential Noise Figure Option)을 Anritsu VectorStar™ 벡터 네트워크 분석기 (VNA)에 통합한 이 솔루션을 사용하면 R&D 엔지니어가 저잡음 증폭기(low noise amplifiers : LNA) 및 5G 프런트 엔드에 사용되는 기타 장치의 수신기 성능을 검증할 수 있다.
이 옵션은 70kHz에서 최대 20GHz, 40GHz, 70GHz 및 110GHz에서 작동하는 VectorStar 모델에서 사용할 수 있다. 새로운 차동 잡음 지수 옵션은 VectorStar의 2 포트 단일 종단 잡음 지수 측정 기능을 향상시키며 VNA는 다양한 처리 옵션을 사용하여 단일 종단, 차등 및 공통 모드 작업에서 3포트 및 4포트 디바이스를 측정할 수 있다.
Anritsu의 차동 잡음 지수 옵션은 기존의 Y 인자 잡음 소스 방법에 비해 정확도를 향상시키기 위해 부정합 오류를 최소화하는 2포트 방법과 유사한 콜드소스 측정 기법을 사용한다.

새롭게 향상된 잡음 지수 옵션은 2포트 및 멀티 포트 장치에서 벡터 보정 레벨을 수행할 수 있는 기능을 추가하여 특히 불일치가 클 때 더욱 높은 정확도를 제공한다. 새로운 차동 잡음 지수 기술은 상관 및 비상관 잡음의 측정 분석도 가능하다. 결과적으로 실제 디바이스 성능을 보다 포괄적으로 특성화하여 설계 신뢰도를 높일 수 있다.
시험 대상 장치(DUT)출력 포트 간의 상관관계를 무시하거나 S-parameter 응답특성과 RF balun만을 포함하기 때문에 차동장치의 특성화가 어려운 기존 접근 방식보다 우수한 방법이다. 5G로 인해 작동 주파수가 계속 상승함에 따라 디바이스 성능을 보다 정확하게 특성화할 수 있는 능력이 더 중요해질 전망이다.
VectorStar의 확장된 네트워크 도구로 정확성이 더욱 보장된다. 예를 들어 VNA는 On -Wafer 잡음 지수 측정 프로세스 동안 단일 종단형 및 차동형 프로브 및 기타 네트워크 특성을 임베딩(포함)시키거나 디임베딩(제거)할 수 있으며 다른 설정 변경을 위해 수신기 캘리브레이션(보정)을 정확하게 수행할 수 있다. 결과적으로 On-Wafer 환경에서 차동 장치의 잡음지수 특성을 보다 정확하게 측정할 수 있다.
MS4640B VectorStar VNA는 단일 장비로 70kHz~70GHz의 가장 넓은 범위를 처리할 수 있는 제품이다. 광대역 구성에서 커버리지는 145GHz 및 1.1THz로까지 확장할 수 있다.

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